所屬分類：接觸角測(cè)量?jī)x
專為晶圓wafer客戶量身打造的 晶圓接觸角檢測(cè)設(shè)備，可滿足6-12寸晶圓樣品的多點(diǎn)位測(cè)試。
全自動(dòng)晶圓型接觸角測(cè)量?jī)xSDC-580專為晶圓wafer客戶量身打造的一套晶圓接觸角檢測(cè)設(shè)備，可同時(shí)滿足6-12寸晶圓樣品的多點(diǎn)位測(cè)試。
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